• 产品名称:透射电子显微镜工作原理及用途
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  • 发布时间: 2021-05-12
产品详细

  透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),能够看到正在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的轻细机合,这些机合称为亚显微机合或超微机合。要思看清这些机合,就必需选取波长更短的光源,以提升显微镜的区分率。1932年Ruska发理会以电子束为光源的透射电子显微镜,电子束的波长要比可睹光和紫外光短得众,而且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比,也便是说电压越高波长越短。目前TEM的区分力可达0.2nm。

  透射电子显微镜作事道理是由电子枪发射出来的电子束,正在真空通道中沿着镜体光轴穿越聚光镜,通过聚光镜将之会聚成一束尖细、明亮而又平均的光斑,照耀正在样品室内的样品上;透过样品后的电子束领导有样品内部的机合新闻,样品内致密处透过的电子量少,疏落处透过的电子量众;通过物镜的会聚调焦和低级放大后,电子束进入下级的中央透镜和第1、第2投影镜举行归纳放大成像,最终被放大了的电子影像投射正在瞻仰室内的荧光屏板上;荧光屏将电子影像转化为可睹光影像以供应用者瞻仰。本节将分辨对各体系中的苛重机合和道理予以先容。

  1.汲取像:当电子射到质地、密度大的样品时,苛重的成相功用是散射功用。样品上质地厚度大的地方对电子的散射角大,通过的电子较少,像的亮度较暗。早期的透射电子显微镜都是基于这种道理。

  2.衍射像:电子束被样品衍射后,样品分别地位的衍射波振幅漫衍对应于样品中晶体各一面分别的衍射才力,当崭露晶体缺陷时,缺陷一面的衍射才力与完备区域分别,从而使衍射波的振幅漫衍不服均,反响出晶体缺陷的漫衍。

  3.相位像:当样品薄至100以下时,电子能够穿过样品,波的振幅转化能够纰漏,成像来自于相位的转化。

  透射电子显微镜正在质料科学 、生物学上利用较众。因为电子易散射或被物体汲取,故穿透力低,样品的密度、厚度等城市影响到结果的成像质地,必需制备更薄的超薄切片,平淡为50~100nm。于是用透射电子显微镜瞻仰时的样品须要管理得很薄。常用的办法有:超薄切片法、冷冻超薄切片法、冷冻蚀刻法、冷冻断裂法等。对待液体样品,平淡是挂预管理过的铜网进取行瞻仰。

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